Lehrstuhl für Werkstoffkunde (WKK)

Neuestes Großgerät Tescan GAIA3 in Betrieb genommen!
Die Tescan GAIA3 ist ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit FIB Säule (Focused Ion Beam), welches sowohl hochaufgelöste Aufnahmen, als auch Bearbeitungen auf der Mikro- und Nanoskala und 3-D-Rekonstruktionen der Mikrostruktur ermöglicht.
Mit dem FIB-REM GAIA3 werden am Lehrstuhl für Werkstoffkunde mikrostrukturelle Veränderungen metallischer Werkstoffe, z. B. durch innovative Bearbeitungsprozesse, sowie Interfaces in hybriden Werkstoffsystemen analysiert.

Technische Spezifikationen

Ansprechpartner: Matthias Klein

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