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Lehrstuhl für Messtechnik und Sensorik

2015

Barthel, J.; Jung, K. u. Seewig, J.: High-Voltage DC Trailing Cable Systems for Mobile Machinery. IECON 2015 - 41st Annual Conference on IEEE Industrial Electronics Society, 2015, 1145-1151

Arnecke, P. u. Seewig, J.: Characterisation of texture orientation on ground surfaces with high accuracy. Proceedings of the 15. International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces. 2015, S. Session II-3

Davoudi, N., Müller-Renno, C., Ziegler, C., Raid, I., Seewig, J., Schlegel, C., Ulber, R. u. Muffler, K.: Nanomechanical Properties of the Sea-water Bacterium Paracoccus seriniphilus - a Scanning Force Microscopy Approach. Biointerphases (2015)

Eifler, M., Schäfer, P. u. Seewig, J.: Modellbasierte Entwicklung eines Geometrienormals für pneumatische Abstandssensoren. tm - Technisches Messen 82 (2015) 2

Raid, I., Eifler, M. u. Seewig, J.: Ellipso-Height-Topometry: White light interferometry with local material recognition. Proceedings of the 15. International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces. 2015

Seewig, J. u. Eifler, M.: Nahe an der Anwendung – Geometrienormale zur Kalibrierung von Tastschnittgeräten. QZ – Qualität und Zuverlässigkeit 60 (2015) 3, S. 44–46

2014

Arnecke, P. u. Seewig, J.: A Strategy for Micro-Twist Characterization on the Shaft in a Rotary Shaft Sealing System. 18th ISC, International Sealing Conference, Internationale Dichtungstagung. 2014, S. 653–666

Böttner, T., Mauch, F., Osten, W., Riedel, J., Schmitt, R., Schmidt, H., Hausotte, T., Wiehr, C. u. Seewig, J.: Helfer ohne Fehl und Tadel. Assistenzsysteme für den sicheren Einsatz optischer Abstandssensoren. inspect 2014 (2014) 5

Eifler, M., Schäfer, P. u. Seewig, J.: Entwicklung eines Geometrienormals zur Kalibrierung von pneumatischen Abstandssensoren. 28. Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik 28 (2014), S. 25–33

Pehnelt, S., Dollinger, P., Seewig, J. u. Eifler, M.: Stabilisierung von Rauheitskennwerten durch Ausblenden von Stördaten. MTZ – Motortechnische Zeitschrift 75 (2014) 4, S. 52–57

Raid, I., Seewig, J., Frölich, D., Sauer, B., Mayer, P., Schneider, F. u. Aurich, J. C.: Kinematische Simulation gedrehter Wellenlaufflächen - Funktionsorientierte Untersuchung des Einflusses der Prozessparameter auf Drallstrukturen. wt Werkstattstechnik online (2014) 104

Seewig, J. u. Eifler, M.: Periodic Gaussian filter according to ISO 16610-21 for closed profiles. Precision Engineering 38 (2014) 2, S. 439–442

Seewig, J., Eifler, M. u. Wiora, G.: Unambiguous evaluation of a chirp measurement standard. Surface Topography: Metrology and Properties 2 (2014) 4, S. 045003

Sousa, F. J. P., Seewig, J., Chiamulera, C., Alarcon, O. E. u. Weingärtner, W. L.: Characterization of the tool wear du to the polishing of ceramic tiles under ductile regime using morphological space. 21º CBECIMAT - Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciência dos Materiais. 2014, S. 1031–1038

Sousa, F. J. P., Seewig, J., Chiamulera, C., Alarcon, O. E. u. Weingärtner, W. L.: Evolution of Wear on the Abrasive Tool during the Polishing of Porcelain Tile Using Morphological Space. Advanced Materials Research (2014) 906, S. 293–302

Ströer, F., Seewig, J. u. Depiereux, F.: Vergleichbare Ergebnisse. Rauheitsmessung taktil oder optisch? QZ Qualität und Zuverlässigkeit 59 (2014) 5, S. 70–72

2013

Geringer, J., Arnecke, P. u. Seewig, J.: Novel parameters to assess feature size on functional surfaces. Surface Topography: Metrology and Properties 1 (2013) 1, S. 015004

Pehnelt, S., Dollinger, P., Osten, W. u. Seewig, J.: Topografiebeurteilung von Zylinderlaufbahnen. MTZ - Motortechnische Zeitschrift 74 (2013) 4, S. 320–325

Raid, I., Kusnezowa, T. u. Seewig, J.: Application of ordinary kriging for interpolation of micro-structured technical surfaces. Measurement Science and Technology 24 (2013) 9, S. 095201

Schäfer, P., Broschart, D. u. Seewig, J.: Aktive Schwingungsdämpfung eines Weißlichtinterferometers. tm - Technisches Messen 80 (2013) 1, S. 16–20

Schäfer, P., Eifler, M. u. Seewig, J.: Pneumatische Abstandsmessung. Mathematische Beschreibung von Dynamik und Übertragungsverhalten. wt Werkstatttechnik online (2013) 11/12, S. 904–910

Schäfer, P., Eifler, M., Seewig, J. u. Volk, R.: Pneumatische Abstandsmessung, Funktion und potentielle Einsatzgebiete. Form- und Konturmesstechnik 2013. VDI 2013, S. 51–63

Seewig, J.: Areal Filtering Methods. In: Leach, R. (Hrsg.): Characterisation of areal surface texture. Berlin, New York: Springer 2013, S. 67–106

Seewig, J.: Filtration of Surface Measurement Data. In: Wang, J. Q. u. Chung, Y.-W. (Hrsg.): Encyclopedia of Tribology. Springer US 2013, S. 1099–1106

Seewig, J., Raid, I., Wiehr, C., George, B. A., Lehmann, P. H., Osten, W. u. Albertazzi, A.: Robust evaluation of intensity curves measured by confocal microscopies. SPIE Optical Metrology 2013. SPIE Proceedings. SPIE 2013, S. 87880T

Seewig, J., Schäfer, P., Wegmann, H. u. Volk, R.: Three-point measurement and mathematical methods of surface reconstruction. ISMTII. Metrology - Master Global Challenges. 2013

Sousa, F. J. P., Hosse, D., Reichenbach, I., Aurich, J. C. u. Seewig, J.: Influence of kinematics and abrasive configuration on the grinding process of glass. Journal of Materials Processing Technology 213 (2013) 5, S. 728–739

Wiehr, C.: Hilfe aus dem Rechner. Assistent für die optische Oberflächenmesstechnik. QZ – Qualität und Zuverlässigkeit 58 (2013) 12, S. 40–42

2012

Seewig, J.: Anwendung von Filtern nach ISO 16610 an unterbrochenen Oberflächenprofilen. Kanten und Radien. XIII. Internationales Oberflächenkolloquium. 1. Treffen "Industry meets standardization and science" - IMSAS. Universtitätsverlag Chemnitz 2012, S. 200–209

Seewig, J. u. Wendel, M.: Scattered light sensor for chatter mark detection in nanometer scale. Int. J. Nanomanufacturing 8 (2012) 5/6, S. 484–492

2011

Brodmann, B., Seewig, J. u. Wendel, M.: Von der Linie zur Fläche. Winkelauflösende Streulichtmesstechnik. Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2011. Messprinzipien - Messgeräte - Anwendungen; 4. Fachtagung, Erlangen, 25. und 26. Oktober 2011. Düsseldorf: VDI-Verl. 2011, S. 111–121

Pehnelt, S., Osten, W. u. Seewig, J.: Vergleichende Untersuchung optischer Oberflächenmessgeräte mit einem Chirp-Kalibriernormal. tm - Technisches Messen 78 (2011) 10, S. 457–462

Seewig, J.: Winkelauflösende Streulichtmesstechnik zur robusten In-Line Messung der Mikrogeometrie auf Zahnflanken. 4. Fachtagung Verzahnungsmesstechnik 2011. Leonberg bei Stuttgart, 21. und 22. September 2011. Düsseldorf: VDI-Verl 2011, S. 56–65

Seewig, J., Böttner, T. u. Broschart, D.: Uncertainty of height information in coherence scanning interferometry. Optical Measurement Systems für Industrial Inspection VII. Processings of SIE Volume 8082. 2011, S. 0V-1 - 0V-9

Seewig, J. u. Ehret, G.: Unsicherheitsbetrachtungen zur Formmessung an optischen Bauelementen auf der Basis von Bayes. Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen. VDI-Berichte, Bd. 2149. Düsseldorf, Nordrhein-Westfalen, Deutschland: VDI-Verlag GmbH 2011, S. 63–72

Seewig, J. u. Wendel, M.: An approach to extract the depth information of surface topography using an angle resolved non coherent light scatter sensor. Proceedings of the 13th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces. Journal of Physics: Conference Series, Bd. 311. Red Hook, New York, USA: Curran Associates, Inc. 2011, S. 363–368

Seewig, J., Wiehr, C. u. Gröger, S.: Charakterisierung technischer Bauteiloberflächen. Stand der Oberflächenmesstechnik heute. Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2011. Messprinzipien - Messgeräte - Anwendungen; 4. Fachtagung, Erlangen, 25. und 26. Oktober 2011. Düsseldorf: VDI-Verl. 2011, S. 159–171

Vorburger, T. V., Silver, R., Brodmann, R., Brodmann, B. u. Seewig, J.: Light Scattering Methods. In: Leach, R. (Hrsg.): Optical Measurement of Surface Topography. Berlin, Heidelberg: Springer 2011, S. 287–318

Wendel, M.: Streulicht-Messtechnik - In-Line Messungen zur 100% Prüfung. Ingenieurspiegel (2011) 3, S. 31

Wiehr, C. u. Seewig, J.: 3D-Kenngrößen nach ISO 25178. Fortschritte in der Metallographie. Vortragstexte der 45. Metallographie-Tagung, 14.-16. September 2011 in Karlsruhe. Frankfurt/Main: MAT-INFO, Werkstoff-Informationsges 2011, S. 3–8

2009

Koerfer, F., Seewig, J., Schmitt, R., Osten, W. u. Weckmann, A.: Asistance system for optical sensors. Modeling Aspects in Optical Metrology II. Proceedings of SPIE, Bd. 7390. Bellingham, Washington, USA: SPIE 2009, S. 79300C-79300C-8

Meeß, K., Kästner, M. u. Seewig, J.: Verringerung und Abschätzung der Messunsicherheit bei der optischen Verzahnungsmessung mit Streifenprojektion (Reduction and Evaluation of the Uncertainty of Measurement of Optical Gear Measurement using Fringe Projection). tm - Technisches Messen 73 (2009) 11, S. 603–610

Rahlves, M. u. Seewig, J. (Hrsg.): Optisches Messen technischer Oberflächen. Messprinzipien und Begriffe. Berlin, Wien, Zürich: Beuth 2009

Schmitt, R., Koerfer, F., Seewig, J., Osten, W., Weckenmann, A., Bosse, H., Bodermann, B. u. Silver, R. M.: Assistance system for optical sensors. SPIE Europe Optical Metrology. SPIE Proceedings. SPIE 2009, S. 73900C

Seewig, J.: Gaussian Regression Filters. In: Muralikrishnan, B. u. Raja, J. (Hrsg.): Computational surface and roundness metrology. London: Springer 2009, S. 67–76

Seewig, J., Beichert, G., Brodmann, R., Bodschwinna, H. u. Wendel, M.: Extraction of shape and roughness using scattering light. Optical Metrology, Proceedings of SPIE (2009) 7389 der Gesamtfolge, S. (73890N-1)-(73890N-11)

Seewig, J., Damm, T., Fransch, J., Kauven, D., Rau, S. u. Schnebele, J.: Reconstruction of shape using gradient measuring optical systems. Fringe 2009 - 6th International Workshop on Advanced Optical Metrology, Bd. 6. Berlin, Heidelberg: Springer 2009, S. 398–404

Seewig, J. u. Hercke, T.: 2nd generation lead Measurement. Fundamental and applied metrology. IMEKO XIX world congress, September 6 - 11, 2009, Lisbon, Portugal ; proceedings. Budapest: IMEKO 2009, S. 1957–1961

Seewig, J. u. Hercke, T.: Lead characterisation by an objective evaluation method. Wear 266 (2009) 5-6, S. 530–533

Weckmann, A., Jiang, X., Sommer, K.-D., Neuschaefer-Rube, U., Seewig, J., Shaw, L. u. Estler, T.: Multisensor data fusion in dimensional metrology. CIRP Annals - Manufacturing Technology (2009) 58, S. 701–721

2008

Dziomba, T., Shaleev, M., Seewig, J. u. Krüger-Sehm, R.: Self-assembled GE/Si islands as novel nanoroughness standards for Scanning Force Microscopy. XII. International Colloquium on Surfaces. Proceedings. Messtechnik und Sensorik. Aachen, Nordrhein-Westfalen, Deutschland: Shaker Verlag GmbH 2008, S. 175–184

Huertos, F., Clarysse, F., Vermeulen, M. u. Seewig, J.: Comparison of classic and robust Gauss filtering for the determination of waviness of non-isotropic surfaces. XII. International Colloquium on Surfaces. Proceedings. Messtechnik und Sensorik. Aachen, Nordrhein-Westfalen, Deutschland: Shaker Verlag GmbH 2008, S. 268–277

Seewig, J., Hercke, T., Jordan, H. J. u. Volk, R.: Optical high speed twist characterisation. XII. International Colloquium on Surfaces. Proceedings. Messtechnik und Sensorik. Aachen, Nordrhein-Westfalen, Deutschland: Shaker Verlag GmbH 2008, S. 43–49

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