Lehrstuhl für Messtechnik und Sensorik (MTS)

Publikationen

2018

H. Hotz, F. Ströer, L. Heberger B. Kirsch, M. Smaga, T. Beck, J. Seewig, J.C. Aurich: Konzept zur Oberflächenkonditionierung beim kryogenen Hartdrehen. ZWF - Zeitschrift für wirtschaftlichen Fabrikbetrieb 7/8 (2018): S. 462-465.

T. Seyler; M. Fratz; T. Beckmann; A. Bertz; D. Carl; V. Grün; R. Börret; F. Ströer; J. Seewig: Extensive microstructural quality control inside a machine tool using multiwavelength digital holography. Proceedings Volume 10834, Speckle 2018: VII International Conference on Speckle Metrology; 108342B (2018) doi.org/10.1117/12.2319750

Hering, J.; Eifler, M.; Hofherr, L.; Ziegler, C.; Seewig, J.; von Freymann G.: Two-photon laser lithography in optical metrology, Proc. SPIE Vol. 10544, Advanced Fabrication Technologies for Micro/Nano Optics and Photonics XI, 1054412, 2018.

Eifler, M.; Hering, J.; von Freymann, G.; Seewig, J.: Manufacturing of the ISO 25178-70 material measures with direct laser writing: a feasibility study. Surface Topography: Metrology and Properties, (6) 2018, S. 024010

Klauer, K.; Eifler, M.; Seewig, J.; Kirsch, B.; Aurich J.C.: Application of function-oriented roughness parameters using confocal microscopy. Engineering Science and Technology, an International Journal, 21, 2018, S. 302-313.

Eifler, M.; Hering, J.; von Freymann, G.; Seewig, J.: Calibration sample for arbitrary metrological characteristics of optical topography measuring instruments. Optics Express, (26) 2018, 13, S. 16609-16623

Eifler, M.; Klauer, K.; Kirsch, B.; Seewig, J.; Aurich, J.C.: Micro-milling of areal material measures - influences on the resulting surface topography. Procedia CIRP (71), 2018, S. 122-127.

Seewig, J.; Eifler, M.; Bauer, W.; Wiora, G.: Das faire Datenblatt - Der heutige Stand und die Zukunft. 6. VDI-Fachtagung Optische Messung von Funktionsflächen 2018, VDI-Berichte 2326, S. 81-84.

Seewig, J.; Eifler, M.; Bauer, W.: Praxisgerechte Kalibrierung nach ISO 25178-700 - Eine Übersicht. 2. VDI-Fachtagung Multisensorik in der Fertigungsmesstechnik 2018, VDI-Berichte 2326, S. 213-216.

Keksel, A.; Eifler, M.; Seewig, J.: Modeling of topography measuring instrument transfer functions by time series models. Measurement Science and Technology (29), 2018, 095012.

Ströer, F., Trinkaus, K., Raid, I. & Seewig, J.: System identification and control parameter optimization for a stylus profiler with exchangeable cantilevers. Engineering Science and Technology, an International Journal. DOI: 10.1016/j.jestch.2018.02.012

Eifler, M., Ströer, F., Rief, S., & Seewig, J.:. Model Selection and Quality Estimation of Time Series Models for Artificial Technical Surface Generation. Technologies, 6(1), 3. 2018

2017

Arrabiyeh, P. A., Bohley, M., Ströer, F., Kirsch, B., Seewig, J., & Aurich, J. C.: Experimental Analysis for the Use of Sodium Dodecyl Sulfate as a Soluble Metal Cutting Fluid for Micromachining with Electroless-Plated Micropencil Grinding Tools. Inventions, 2(4), 29. 2017

Wiegel, T.; Herder, C.; Glenske, C. et al.: Robust Wear-detecting Sensor Concepts to Realize Innovative Services and Availability-oriented Business Models in Capital Goods Industry. Proceedings of the 14th Symposium Magnetoresistive Sensors and Magnetic Systems, pp. 23-31. 2017

Torner, F., Stelzer, G., Ströer, F., & Seewig, J.: Development of a sensor prototype and geometry based parameters for the characterization of riblets using angle-resolved measurement techniques. Procedia CIRP, 63, 8-13. 2017

Ströer, F.; Faißt, K.; Eickhoff, T.; Apostolov, H.; Sivasothy, P.; Seewig, J.; Eigner, M.: Big Data in verfügbarkeitsorientierten Produkt-Servicesystemen am Beispiel einer Landmaschine. Tag des Systems Engineering. 2017

Torner, F.; Das, J.; Stelzer, G.; Linke, B.; Seewig, J.: Fundamental Analysis of the Usability of an Angle-Resolved Scattered Light Sensor for Monitoring Vibratory Finishing Processes Based on Ray Tracing Simulations, Applied Mechanics and Materials 869 (2017), S. 115-127.

Rupprecht, F.A., Torner, F.M.; Seewig, J.; Eber, A.: Dependency Graph Based on User Taxonomy and Related Parameters for more Efficient Collaborative Work, Applied Mechanics and Materials, Vol. 869 (2017), pp. 195-211

Rief S.; Seewig J.; Hüser D.: Einflüsse der Oberflächenstruktur auf die Streuung von Rauheitskennwerten: Praxisrelevante Untersuchungen. In: Sophie Gröger und Marco Weißgerber (Hg.): XIV. Internationales Oberflächenkolloquium. XIV. International Colloquium on Surfaces; Tagungsband. Chemnitz: Universitätsverlag Chemnitz, S. 105–114, 2017.

Klauer, K.; Eifler, M.; Schneider, F.; Seewig, J.; Aurich, J.C.: Ageing of roughness artefacts – impact on the measurement results. Proceedings of euspen’s 17th International Conference & Exhibition, Hannover, Germany (2017) 403-404.

Seewig, J.; Eifler, M.: Calibration of areal surface topography measuring instruments. Proc. SPIE 10449, Fifth International Conference on Optical and Photonics Engineering, 1044911, 2017

Torner, F.M., Karatas, A.; Eifler, M.; Raid, I.; Seewig, J.: Application of GPU-based, highly parallelized algorithms for the estimation of electromagnetic multi-layer interactions, Proc. SPIE Vol. 10329, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X, 1032922, 2017

Ströer, F.; Hering, J.; Eifler, M.; Raid, I.; von Freymann, G.; Seewig, J.: Ultrafast 3D high precision print of micro structures for optical instrument calibration procedures, Additive Manufacturing (18), 2017, S. 22-30.

Rief, S.; Ströer, F.; Kieß, S.; Eifler, M.; Seewig, J.: An Approach for the Simulation of Ground and Honed Technical Surfaces for Training Classifiers. Technologies 2017 (5), 4, 66.

2016

Rief, S.; Seewig, J.: Unsicherheit von Rauheitskennwerten in der Praxis. Untersuchung der Statistik der Oberfläche auf Zylinderlaufbahnen. In: wt Werkstattstechnik online 106 (11/12), S. 823–829, 2016.

Hüser, D.; Hüser, J.; Rief, S.; Seewig, J.; Thomsen-Schmidt, P.: Procedure to approximately estimate the uncertainty of material ratio parameters due to inhomogeneity of surface roughness. In: Meas. Sci. Technol. 27 (8), S. 085005. 2016.

Eifler, M.; Ballach, F.; Stoschus, H.; Seewig, J.; Christoph, R.; Schneider, F.; Aurich, J.C.: Neue Anwendungen – Rauheitsmessung mit Computertomographie. qz – Qualität und Zuverlässigkeit, (61) 2016, 1, S. 50-53

Seewig, J.; Eifler, M.; Schneider, F.; Kirsch, B.; Aurich, J.C.: A model-based approach for the calibration and traceability of the angle resolved scattering light sensor, Surface Topography: Metrology and Properties, (4) 2016, S. 024010

Seewig, J.; Eifler, M.; Schneider, F.; Aurich, J.C.: Design and verification of geometric roughness standards by reverse engineering. Procedia CIRP (45), 2016, S. 259-262

Eifler, M.; Schneider, F.; Seewig, J.; Kirsch, B.; Aurich, J.C.: Manufacturing of new roughness standards for the linearity of the vertical axis - Feasibility study and optimization. Engineering Science and Technology, an International Journal, 4, 2016, S. 1993-2001.

2015

Eifler, M.; Schneider, F.; Bohley, M.; Aurich, J.C.; Seewig, J.: Contamination of roughness artefacts – impact on the measurement results, Proceedings of euspen’s 15th International Conference & Exhibition, 1.-5. Juni 2015, Leuven, Belgien, S. 119-120

Eifler, M.; Seewig, J.; Hering, J.; von Freymann, G.: Calibration of z-axis linearity for arbitrary optical topography measuring instruments, Proceedings of SPIE 9525-163, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection IX, 22.-25. Juni 2015, München

Schneider, F.; Eifler, M.; Kirsch, B.; Seewig, J.; Aurich, J.C.: Entwicklung und Fertigung von Kalibriernormalen auf Basis realer Bauteiloberflächen – Praxisnahe Kalibrierung von Messgeräten, VDI-Z, (157) 2015, 7-8, S. 32-34

Schneider, F.; Eifler, M.; Kirsch, B.; Seewig, J.; Aurich J.C.: Entwicklung und Fertigung von Geometrienormalen auf Basis realer Bauteiloberflächen, Unter Span, 2015, 2, S. 23-24

Raid, I.; Eifler, M.; Kusnezowa, T.; Seewig, J.: Calibration of Ellipso-Height-Topometry with Nanoscale Gratings of Varying Materials, Optik, 126 (2015), 23, S. 4691-4596

Barthel, J.; Jung, K. u. Seewig, J.: High-Voltage DC Trailing Cable Systems for Mobile Machinery. IECON 2015 - 41st Annual Conference on IEEE Industrial Electronics Society, 2015, 1145-1151

Arnecke, P. u. Seewig, J.: Characterisation of texture orientation on ground surfaces with high accuracy. Proceedings of the 15. International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces. 2015, S. Session II-3

Davoudi, N., Müller-Renno, C., Ziegler, C., Raid, I., Seewig, J., Schlegel, C., Ulber, R. u. Muffler, K.: Nanomechanical Properties of the Sea-water Bacterium Paracoccus seriniphilus - a Scanning Force Microscopy Approach. Biointerphases (2015)

Eifler, M., Schäfer, P. u. Seewig, J.: Modellbasierte Entwicklung eines Geometrienormals für pneumatische Abstandssensoren. tm - Technisches Messen 82 (2015) 2

Raid, I., Eifler, M. u. Seewig, J.: Ellipso-Height-Topometry: White light interferometry with local material recognition. Proceedings of the 15. International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces. 2015

Seewig, J. u. Eifler, M.: Nahe an der Anwendung – Geometrienormale zur Kalibrierung von Tastschnittgeräten. QZ – Qualität und Zuverlässigkeit 60 (2015) 3, S. 44–46

2014

Arnecke, P. u. Seewig, J.: A Strategy for Micro-Twist Characterization on the Shaft in a Rotary Shaft Sealing System. 18th ISC, International Sealing Conference, Internationale Dichtungstagung. 2014, S. 653–666

Böttner, T., Mauch, F., Osten, W., Riedel, J., Schmitt, R., Schmidt, H., Hausotte, T., Wiehr, C. u. Seewig, J.: Helfer ohne Fehl und Tadel. Assistenzsysteme für den sicheren Einsatz optischer Abstandssensoren. inspect 2014 (2014) 5

Eifler, M., Schäfer, P. u. Seewig, J.: Entwicklung eines Geometrienormals zur Kalibrierung von pneumatischen Abstandssensoren. 28. Symposium des Arbeitskreises der Hochschullehrer für Messtechnik 28 (2014), S. 25–33

Pehnelt, S., Dollinger, P., Seewig, J. u. Eifler, M.: Stabilisierung von Rauheitskennwerten durch Ausblenden von Stördaten. MTZ – Motortechnische Zeitschrift 75 (2014) 4, S. 52–57

Raid, I., Seewig, J., Frölich, D., Sauer, B., Mayer, P., Schneider, F. u. Aurich, J. C.: Kinematische Simulation gedrehter Wellenlaufflächen - Funktionsorientierte Untersuchung des Einflusses der Prozessparameter auf Drallstrukturen. wt Werkstattstechnik online (2014) 104

Seewig, J. u. Eifler, M.: Periodic Gaussian filter according to ISO 16610-21 for closed profiles. Precision Engineering 38 (2014) 2, S. 439–442

Seewig, J., Eifler, M. u. Wiora, G.: Unambiguous evaluation of a chirp measurement standard. Surface Topography: Metrology and Properties 2 (2014) 4, S. 045003

Sousa, F. J. P., Seewig, J., Chiamulera, C., Alarcon, O. E. u. Weingärtner, W. L.: Characterization of the tool wear du to the polishing of ceramic tiles under ductile regime using morphological space. 21º CBECIMAT - Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciência dos Materiais. 2014, S. 1031–1038

Sousa, F. J. P., Seewig, J., Chiamulera, C., Alarcon, O. E. u. Weingärtner, W. L.: Evolution of Wear on the Abrasive Tool during the Polishing of Porcelain Tile Using Morphological Space. Advanced Materials Research (2014) 906, S. 293–302

Ströer, F., Seewig, J. u. Depiereux, F.: Vergleichbare Ergebnisse. Rauheitsmessung taktil oder optisch? QZ Qualität und Zuverlässigkeit 59 (2014) 5, S. 70–72

2013

Geringer, J., Arnecke, P. u. Seewig, J.: Novel parameters to assess feature size on functional surfaces. Surface Topography: Metrology and Properties 1 (2013) 1, S. 015004

Pehnelt, S., Dollinger, P., Osten, W. u. Seewig, J.: Topografiebeurteilung von Zylinderlaufbahnen. MTZ - Motortechnische Zeitschrift 74 (2013) 4, S. 320–325

Raid, I., Kusnezowa, T. u. Seewig, J.: Application of ordinary kriging for interpolation of micro-structured technical surfaces. Measurement Science and Technology 24 (2013) 9, S. 095201

Schäfer, P., Broschart, D. u. Seewig, J.: Aktive Schwingungsdämpfung eines Weißlichtinterferometers. tm - Technisches Messen 80 (2013) 1, S. 16–20

Schäfer, P., Eifler, M. u. Seewig, J.: Pneumatische Abstandsmessung. Mathematische Beschreibung von Dynamik und Übertragungsverhalten. wt Werkstatttechnik online (2013) 11/12, S. 904–910

Schäfer, P., Eifler, M., Seewig, J. u. Volk, R.: Pneumatische Abstandsmessung, Funktion und potentielle Einsatzgebiete. Form- und Konturmesstechnik 2013. VDI 2013, S. 51–63

Seewig, J.: Areal Filtering Methods. In: Leach, R. (Hrsg.): Characterisation of areal surface texture. Berlin, New York: Springer 2013, S. 67–106

Seewig, J.: Filtration of Surface Measurement Data. In: Wang, J. Q. u. Chung, Y.-W. (Hrsg.): Encyclopedia of Tribology. Springer US 2013, S. 1099–1106

Seewig, J., Raid, I., Wiehr, C., George, B. A., Lehmann, P. H., Osten, W. u. Albertazzi, A.: Robust evaluation of intensity curves measured by confocal microscopies. SPIE Optical Metrology 2013. SPIE Proceedings. SPIE 2013, S. 87880T

Seewig, J., Schäfer, P., Wegmann, H. u. Volk, R.: Three-point measurement and mathematical methods of surface reconstruction. ISMTII. Metrology - Master Global Challenges. 2013

Sousa, F. J. P., Hosse, D., Reichenbach, I., Aurich, J. C. u. Seewig, J.: Influence of kinematics and abrasive configuration on the grinding process of glass. Journal of Materials Processing Technology 213 (2013) 5, S. 728–739

Wiehr, C.: Hilfe aus dem Rechner. Assistent für die optische Oberflächenmesstechnik. QZ – Qualität und Zuverlässigkeit 58 (2013) 12, S. 40–42

2012

Seewig, J.: Anwendung von Filtern nach ISO 16610 an unterbrochenen Oberflächenprofilen. Kanten und Radien. XIII. Internationales Oberflächenkolloquium. 1. Treffen "Industry meets standardization and science" - IMSAS. Universtitätsverlag Chemnitz 2012, S. 200–209

Seewig, J. u. Wendel, M.: Scattered light sensor for chatter mark detection in nanometer scale. Int. J. Nanomanufacturing 8 (2012) 5/6, S. 484–492

2011

Brodmann, B., Seewig, J. u. Wendel, M.: Von der Linie zur Fläche. Winkelauflösende Streulichtmesstechnik. Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2011. Messprinzipien - Messgeräte - Anwendungen; 4. Fachtagung, Erlangen, 25. und 26. Oktober 2011. Düsseldorf: VDI-Verl. 2011, S. 111–121

Pehnelt, S., Osten, W. u. Seewig, J.: Vergleichende Untersuchung optischer Oberflächenmessgeräte mit einem Chirp-Kalibriernormal. tm - Technisches Messen 78 (2011) 10, S. 457–462

Seewig, J.: Winkelauflösende Streulichtmesstechnik zur robusten In-Line Messung der Mikrogeometrie auf Zahnflanken. 4. Fachtagung Verzahnungsmesstechnik 2011. Leonberg bei Stuttgart, 21. und 22. September 2011. Düsseldorf: VDI-Verl 2011, S. 56–65

Seewig, J., Böttner, T. u. Broschart, D.: Uncertainty of height information in coherence scanning interferometry. Optical Measurement Systems für Industrial Inspection VII. Processings of SIE Volume 8082. 2011, S. 0V-1 - 0V-9

Seewig, J. u. Ehret, G.: Unsicherheitsbetrachtungen zur Formmessung an optischen Bauelementen auf der Basis von Bayes. Messunsicherheit praxisgerecht bestimmen. VDI-Berichte, Bd. 2149. Düsseldorf, Nordrhein-Westfalen, Deutschland: VDI-Verlag GmbH 2011, S. 63–72

Seewig, J. u. Wendel, M.: An approach to extract the depth information of surface topography using an angle resolved non coherent light scatter sensor. Proceedings of the 13th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces. Journal of Physics: Conference Series, Bd. 311. Red Hook, New York, USA: Curran Associates, Inc. 2011, S. 363–368

Seewig, J., Wiehr, C. u. Gröger, S.: Charakterisierung technischer Bauteiloberflächen. Stand der Oberflächenmesstechnik heute. Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2011. Messprinzipien - Messgeräte - Anwendungen; 4. Fachtagung, Erlangen, 25. und 26. Oktober 2011. Düsseldorf: VDI-Verl. 2011, S. 159–171

Vorburger, T. V., Silver, R., Brodmann, R., Brodmann, B. u. Seewig, J.: Light Scattering Methods. In: Leach, R. (Hrsg.): Optical Measurement of Surface Topography. Berlin, Heidelberg: Springer 2011, S. 287–318

Wendel, M.: Streulicht-Messtechnik - In-Line Messungen zur 100% Prüfung. Ingenieurspiegel (2011) 3, S. 31

Wiehr, C. u. Seewig, J.: 3D-Kenngrößen nach ISO 25178. Fortschritte in der Metallographie. Vortragstexte der 45. Metallographie-Tagung, 14.-16. September 2011 in Karlsruhe. Frankfurt/Main: MAT-INFO, Werkstoff-Informationsges 2011, S. 3–8 

2009

Koerfer, F., Seewig, J., Schmitt, R., Osten, W. u. Weckmann, A.: Asistance system for optical sensors. Modeling Aspects in Optical Metrology II. Proceedings of SPIE, Bd. 7390. Bellingham, Washington, USA: SPIE 2009, S. 79300C-79300C-8

Meeß, K., Kästner, M. u. Seewig, J.: Verringerung und Abschätzung der Messunsicherheit bei der optischen Verzahnungsmessung mit Streifenprojektion (Reduction and Evaluation of the Uncertainty of Measurement of Optical Gear Measurement using Fringe Projection). tm - Technisches Messen 73 (2009) 11, S. 603–610

Rahlves, M. u. Seewig, J. (Hrsg.): Optisches Messen technischer Oberflächen. Messprinzipien und Begriffe. Berlin, Wien, Zürich: Beuth 2009

Schmitt, R., Koerfer, F., Seewig, J., Osten, W., Weckenmann, A., Bosse, H., Bodermann, B. u. Silver, R. M.: Assistance system for optical sensors. SPIE Europe Optical Metrology. SPIE Proceedings. SPIE 2009, S. 73900C

Seewig, J.: Gaussian Regression Filters. In: Muralikrishnan, B. u. Raja, J. (Hrsg.): Computational surface and roundness metrology. London: Springer 2009, S. 67–76

Seewig, J., Beichert, G., Brodmann, R., Bodschwinna, H. u. Wendel, M.: Extraction of shape and roughness using scattering light. Optical Metrology, Proceedings of SPIE (2009) 7389 der Gesamtfolge, S. (73890N-1)-(73890N-11)

Seewig, J., Damm, T., Fransch, J., Kauven, D., Rau, S. u. Schnebele, J.: Reconstruction of shape using gradient measuring optical systems. Fringe 2009 - 6th International Workshop on Advanced Optical Metrology, Bd. 6. Berlin, Heidelberg: Springer 2009, S. 398–404

Seewig, J. u. Hercke, T.: 2nd generation lead Measurement. Fundamental and applied metrology. IMEKO XIX world congress, September 6 - 11, 2009, Lisbon, Portugal ; proceedings. Budapest: IMEKO 2009, S. 1957–1961

Seewig, J. u. Hercke, T.: Lead characterisation by an objective evaluation method. Wear 266 (2009) 5-6, S. 530–533

Weckmann, A., Jiang, X., Sommer, K.-D., Neuschaefer-Rube, U., Seewig, J., Shaw, L. u. Estler, T.: Multisensor data fusion in dimensional metrology. CIRP Annals - Manufacturing Technology (2009) 58, S. 701–721

2008

Dziomba, T., Shaleev, M., Seewig, J. u. Krüger-Sehm, R.: Self-assembled GE/Si islands as novel nanoroughness standards for Scanning Force Microscopy. XII. International Colloquium on Surfaces. Proceedings. Messtechnik und Sensorik. Aachen, Nordrhein-Westfalen, Deutschland: Shaker Verlag GmbH 2008, S. 175–184

Huertos, F., Clarysse, F., Vermeulen, M. u. Seewig, J.: Comparison of classic and robust Gauss filtering for the determination of waviness of non-isotropic surfaces. XII. International Colloquium on Surfaces. Proceedings. Messtechnik und Sensorik. Aachen, Nordrhein-Westfalen, Deutschland: Shaker Verlag GmbH 2008, S. 268–277

Seewig, J., Hercke, T., Jordan, H. J. u. Volk, R.: Optical high speed twist characterisation. XII. International Colloquium on Surfaces. Proceedings. Messtechnik und Sensorik. Aachen, Nordrhein-Westfalen, Deutschland: Shaker Verlag GmbH 2008, S. 43–49

Zum Seitenanfang