Lehrstuhl für Messtechnik und Sensorik (MTS)

Streulicht

3D-Streulicht Erfassung

Das Projekt „Entwicklung eines Streulichtsensors zur dreidimensionalen Erfassung von Oberflächenstrukturen im Nanometerbereich“ wird im Rahmen des Förderprogramms „Zentrales Innovationsprogramm Mittelstand (ZIM)“ vom Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie (BMWi) für die Dauer von zwei Jahren gefördert.

Förderung

Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie (BMWi)

Förderungsdauer: zwei Jahre

 

Motivation

Die Funktionsflächen von Komponenten im Maschinenbau, der Automobiltechnik und Stahlindustrie weisen oft spezielle Texturen auf, um die gewünschte Funktion zu gewährleisten. In der Oberflächenmesstechnik besteht daher mehr und mehr die Forderung nicht nur Profile, sondern dreidimensionale topografische Informationen, von technischen Oberflächen zu messen. Taktile Messtechniken, wie mechanische Tastschnittgeräte, sind hierfür zu zeitaufwendig, da viele parallele Einzelprofilmessungen durchgeführt werden müssen. Interferometrisch bzw. konfokal arbeitende Mikroskope hingegen sind zu empfindlich gegenüber Umgebungseinflüssen und daher in der Fertigung kaum einzusetzen. Es wäre deshalb ein wichtiger und bedeutender Entwicklungsschritt für die Oberflächenmesstechnologie einen 3D-Sensor zur Verfügung zu haben, welcher die Anforderungen an Messgeschwindigkeit und Robustheit erfüllt.

 

Ziel

Ziel des Projektes ist daher die Entwicklung einer optischen 3D-Messeinrichtung, um die räumliche Streulichtverteilung technischer Oberflächen zu erfassen. Dies würde die robuste und schnelle Erkennung von Oberflächentexturen, unabhängig von der gewählten Messrichtung, ermöglichen.

 

Bearbeitung

Prof. Dr.-Ing. Jörg Seewig

Dr.-Ing. Gerhard Stelzer

 

Projektpartner

OptoSurf GmbH (Ettlingen)

 

Veröffentlichungen

Brodmann, B.; Seewig, J.; Wendel, M. (2011): Von der Linie zur Fläche, winkelauflösende Streulichtmesstechnik. In: VDI (Hg.): Metrologie in der Mikro- und Nanotechnik 2011. Karlsruhe, 25.-26.10.2011.

Seewig, J.; Wendel, M. (2011): An approach to extract the depth information of surface topography using an angle resolved non coherent light scatter sensor. In: National Physical Laboratory (Hg.): Proceedings of the 13th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces. Met & Props 2011. London, UK, 12-15.04.2011. 1 Band: Queen's Printer and Controller of HMSO, S. 363–368.

Wendel, M. (2011): Streulicht-Messtechnik. In-Line Messungen zur 100% Prüfung. In: Ingenieurspiegel 2011 (3), S. 31.

 

 

Wir bedanken uns beim Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie für die gute Zusammenarbeit und die erhaltene Förderung.

Weiterhin bedanken wir uns bei der OptoSurf GmbH für die gute Zusammenarbeit.

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